測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
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新聞資訊
News時間：03-12 2024 來自：祥宇精密
在刀具測量過程中，振動會對測量結果產生較大影響，降低測量精度。為了減小刀具測量過程中的振動，我們可以采取以下措施：
- 選擇合適的測量設備
選擇具有抗振性能的刀具測量儀，可以有效減小振動對測量結果的影響。一些先進的測量儀采用了防振設計，如安裝防振墊、使用高穩定性的導軌系統等，可以降低振動對測量精度的影響。
- 保證測量環境穩定
測量環境的穩定性對減小振動有很大影響。在使用刀具測量儀時，我們需要保證測量環境的溫度、濕度等參數在適宜的范圍內。此外，我們還需要避免在測量過程中產生振動，如關閉附近的機器設備、避免人員走動等。可以采用防振墊、隔離振動等措施來減小振動對測量精度的影響。
- 正確安裝刀具
正確安裝刀具也是減小振動的關鍵。在安裝刀具時，我們需要確保刀具與測量儀的接觸面充分接觸，避免產生間隙。此外，我們還需要保證刀具安裝的穩定性，避免在測量過程中發生位移。可以采用夾緊裝置、定位銷等措施來提高刀具安裝的穩定性，從而降低振動對測量結果的影響。
- 采用合適的測量方法
不同的測量方法對振動的敏感性也不同。在使用刀具測量儀時，我們需要根據實際需求選擇合適的測量方法。例如，對于形狀復雜的刀具，可以采用輪廓測量法；對于直徑較小的刀具，可以采用激光測量法等。此外，我們還需要關注測量速度、采樣點數等參數，這些參數也會影響振動對測量精度的影響。
- 增加測量時間
在某些情況下，我們可以通過增加測量時間來減小振動對測量結果的影響。例如，在使用激光測量法時，我們可以適當增加激光器的掃描速度，從而降低振動對測量結果的影響。
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聯系人：張小姐
電 話：0769-8160-1125
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